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更新時間:2026-02-02
瀏覽次數(shù):104偏光應(yīng)力測試儀的工作原理主要基于光彈性效應(yīng)和偏振光干涉現(xiàn)象,是一種利用光學(xué)方法分析材料內(nèi)部應(yīng)力分布的非破壞性檢測技術(shù)。
當(dāng)某些透明的各向同性材料(如玻璃、塑料)內(nèi)部存在應(yīng)力時,其光學(xué)特性會發(fā)生變化,表現(xiàn)出類似晶體的雙折射性質(zhì),這種現(xiàn)象稱為光彈性效應(yīng)或應(yīng)力雙折射。
具體表現(xiàn)為:
雙折射:偏振光進(jìn)入有應(yīng)力的材料后,會分解為兩束振動方向相互垂直、傳播速度不同的線偏振光(尋常光與非常光)。
光程差:由于傳播速度不同,這兩束光在穿過材料后會產(chǎn)生一個相位差,即光程差(Retardation)。光程差的大小與材料在該處的主應(yīng)力差和材料厚度成正比。
關(guān)系公式:光程差 可表示為:
:光程差(單位:納米,nm)
:材料的應(yīng)力光學(xué)常數(shù)(與材料本身相關(guān))
:光穿過材料的厚度
:該點(diǎn)的主應(yīng)力差
儀器通過以下光學(xué)系統(tǒng),將材料內(nèi)部的應(yīng)力差異轉(zhuǎn)化為可見的光強(qiáng)或顏色變化:
起偏器:將來自光源的自然光轉(zhuǎn)換為一束單一的線偏振光。
待測樣品:放置在起偏器后方的線偏振光路徑上。當(dāng)光線穿過有應(yīng)力的樣品時,會發(fā)生上述的雙折射現(xiàn)象,產(chǎn)生具有光程差的兩束光。
檢偏器(也稱分析器):位于樣品之后,其偏振方向通常與起偏器垂直(構(gòu)成“正交偏光場")。它只允許特定振動方向的光通過。
干涉與成像:從樣品中射出的兩束攜帶應(yīng)力信息(光程差)的光,在通過檢偏器時,其振動方向會被調(diào)整到同一平面,從而發(fā)生干涉。干涉的結(jié)果(相長或相消)直接決定了最終射出光的光強(qiáng)。
干涉的結(jié)果可以通過以下兩種主要方式呈現(xiàn)和判讀:
灰度(明暗)條紋法:
在單色光(如鈉黃光)照明下,干涉結(jié)果表現(xiàn)為一系列明暗相間的條紋,稱為等色線。
同一條紋線上的點(diǎn),其主應(yīng)力差 是相等的。條紋越密集,表示應(yīng)力梯度越大;條紋越暗,表示光程差為波長的整數(shù)倍,對應(yīng)特定的應(yīng)力值。
彩色條紋法:
在白光照明下,由于不同波長的光干涉條件不同,會形成彩色的干涉條紋。
顏色序列遵循一定的順序(如紫→藍(lán)→綠→黃→紅),形成一個色序。通過比對顏色的階次,可以估算光程差和應(yīng)力的大小。顏色越鮮艷、變化越豐富,通常表示應(yīng)力值越大。
定量測量(補(bǔ)償法):
為了獲得具體的光程差數(shù)值,高級型號的儀器會集成一個可精確旋轉(zhuǎn)的補(bǔ)償器(如1/4波片或Senarmont補(bǔ)償組件)。
通過手動或自動旋轉(zhuǎn)補(bǔ)償器,可以“抵消"樣品引入的光程差,使視場恢復(fù)至一個特定的消光狀態(tài)(如最暗)。此時補(bǔ)償器旋轉(zhuǎn)的角度與樣品的光程差存在直接的數(shù)學(xué)關(guān)系,從而計(jì)算出精確的數(shù)值。
偏光應(yīng)力測試儀的工作原理可簡述為:利用偏振光照射被測樣品,樣品內(nèi)部的應(yīng)力會調(diào)制通過它的偏振光,產(chǎn)生與應(yīng)力大小相關(guān)的雙折射光程差;這些攜帶應(yīng)力信息的光線經(jīng)過干涉系統(tǒng)后,被轉(zhuǎn)化為肉眼可辨的明暗條紋或彩色圖像,從而實(shí)現(xiàn)對材料內(nèi)部應(yīng)力分布的定性觀察與定量測量。
該原理決定了其適用于對透明或半透明各向同性材料進(jìn)行非接觸、全場性的應(yīng)力分析。

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